应王荣明教授和崔益民副教授邀请，美国密西根大学材料科学与工程系副教授孙凯博士于12月8日上午10:00在威廉williamhill官网在线登录学术交流室主楼513为我校师生作了题为《STEM和球差校正技术最新发展及其在材料研究中的应用》的学术报告。物理科学与核能工程学院、材料科学与技术学院、仪器科学与光电工程学院的多位老师和二十多名研究生一起聆听了孙凯博士的讲座，会议由王荣明教授主持。

孙凯博士在简要介绍密歇根大学的基础上，从透射电镜的基本概念出发，结合具体的分析实例向大家讲述了透射电镜表征的基础理论和分析方法。随后，孙凯教授以扫描透射电镜为研究手段，展示了球差校正扫描透射电镜在材料结构成分表征分析方面中的应用，全面深入地讲解了基于该分析手段所取得的代表性成果。同时介绍了国际上球差校正技术的最新发展，例如亚埃及分辨率的球差校正电镜，超快透射电镜（Ultra-Fast TEM）、三维成像透射电镜（3D TEM）等以及在材料研究中的应用。

本次学术报告，使在场的听众在物理专业知识方面得到了视野上的拓展，而且极大地鼓舞了大家对专业知识学习的兴趣以及对高质量科研工作的追求。