2011年7月11日下午，应威廉williamhill官网在线登录王荣明教授的邀请，美国密歇根大学材料科学与工程学院微电子分析实验室孙凯副研究员再次来到我校，在威廉williamhill官网在线登录学术交流室（主楼513）为广大师生作了题为“Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging, Diffraction and Spectroscopy”的专题报告。会议由王荣明教授主持。

孙凯博士长期从事透射电子显微分析，具有近20年材料显微分析工作经验，在Physical Review Letters、Nano Letters、 Advanced Materials、 Applied Physics Letters、 Physical Review B、Nanotechnology等著名刊物上发表SCI收录论文120余篇，是透射电子显微分析方面的知名专家。

报告中孙凯博士首先从整体上介绍了透射电子显微分析，之后着重向我们讲述透射电子显微学中前沿热点研究内容：扫描透射电子显微技术（STEM）。孙凯博士简要介绍了STEM的发展历程，随后从成像、衍射、光谱分析等三个方面详细讲解了STEM技术的广泛应用前景以及重要的科学研究意义，STEM已经成为透射显微分析中不可或缺的一种分析手段。